التفتيش الآلي بالأشعة السينية (AXI) هو تقنية تعتمد على نفس مبادئ التفتيش البصري الآلي (AOI). يستخدم هذا الفحص الأشعة السينية كمصدر له، بدلاً من الضوء المرئي، لفحص المعالم التي عادةً ما تكون مخفية عن الأنظار.
يتم استخدام التفتيش بالأشعة السينية الآلي في مجموعة واسعة من الصناعات والتطبيقات، وذلك لتحقيق هدفين رئيسيين:
تحسين العملية، أي أن نتائج التفتيش تُستخدم لتحسين خطوات المعالجة التالية،
اكتشاف الشذوذ، أي أن نتيجة التفتيش تكون بمثابة معيار لرفض جزء (للخردة أو إعادة العمل).
بينما يرتبط نظام AOI بشكل رئيسي بتصنيع الإلكترونيات (نظرًا لانتشار استخدامه في تصنيع لوحات الدوائر المطبوعة)، يتمتع نظام AXI بنطاق أوسع بكثير من التطبيقات. فهو يتراوح من فحص جودة العجلات المعدنية إلى الكشف عن شظايا العظام في اللحوم المصنعة. في حالة إنتاج أعداد كبيرة من المنتجات المتشابهة جدًا وفقًا لمعيار محدد، أصبح الفحص الآلي باستخدام برامج متقدمة لمعالجة الصور والتعرف على الأنماط (الرؤية الحاسوبية) أداةً فعّالة لضمان الجودة وتحسين الإنتاجية في عمليات المعالجة والتصنيع.
مع تطور برامج معالجة الصور، يتزايد عدد تطبيقات الفحص الآلي بالأشعة السينية بشكل كبير ومستمر. بدأت التطبيقات الأولى في الصناعات التي تطلبت فيها سلامة المكونات فحصًا دقيقًا لكل جزء مُنتَج (مثل لحام اللحامات للأجزاء المعدنية في محطات الطاقة النووية)، نظرًا لارتفاع تكلفة هذه التقنية في البداية، كما كان متوقعًا. ولكن مع التوسع في استخدام هذه التقنية، انخفضت الأسعار بشكل ملحوظ، مما أتاح مجالًا أوسع بكثير للفحص الآلي بالأشعة السينية، مدعومًا جزئيًا بجوانب السلامة (مثل الكشف عن المعادن أو الزجاج أو مواد أخرى في الأغذية المصنعة)، أو لزيادة الإنتاجية وتحسين المعالجة (مثل الكشف عن حجم وموقع الثقوب في الجبن لتحسين أنماط التقطيع).[4]
في الإنتاج الضخم للسلع المعقدة (مثل تصنيع الإلكترونيات)، يُمكن للكشف المبكر عن العيوب أن يُخفّض التكلفة الإجمالية بشكل كبير، لأنه يمنع استخدام الأجزاء المعيبة في خطوات التصنيع اللاحقة. ويؤدي هذا إلى ثلاث فوائد رئيسية: أ) يُقدّم تغذية راجعة في أقرب وقت ممكن عند وجود عيب في المواد أو خروج معايير العملية عن السيطرة، ب) يمنع إضافة قيمة إلى المكونات المعيبة أصلاً، وبالتالي يُخفّض التكلفة الإجمالية للعيب، ج) يزيد من احتمالية ظهور عيوب ميدانية في المنتج النهائي، لأن العيب قد لا يُكتشف في مراحل لاحقة من فحص الجودة أو أثناء الاختبار الوظيفي بسبب محدودية أنماط الاختبار.
وقت النشر: ٢٨ ديسمبر ٢٠٢١